Integriertes Weitfeld-Konfokalmikroskop für die Oberflächenanalyse in Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle Das vielseitige ZEISS Smartproof 5 Weitfeld-Konfokalmikroskop ist Ihr integriertes System für die schnelle, präzise und wiederholbare Oberflächenanalyse. Setzen Sie es für eine breite Palette industrieller Anwendungen ein: - Messung von geometrischen 3D-Merkmalen - Messung von Rauheit, Kanten und Verschleiß - Quantifizierung von Formparametern Integriertes und robustes Design Mit Smartproof 5 profitieren Sie von einem vollständig integrierten Systemdesign: Optik, Elektronik und Kamera sind in das Mikroskop eingebunden, und die Anzahl der Kabel wurde auf ein Minimum beschränkt. Das gesamte System ist kompakt, robust und vibrationsfest, sodass keine zusätzliche Schwingungsdämpfung erforderlich ist. Geführte Arbeitsabläufe Mit der Bedienungsfreundlichkeit und den in der Software verankerten Workflow-Routinen eignet sich Smartproof 5 besonders für die Produktions- und Prozessüberwachung. Anlernbare Inspektionsaufgaben und die auf den Arbeitsprozess abgestimmte grafische Benutzeroberfläche (GUI) führen Sie durch wiederkehrende Aufgaben und sorgen für eine nutzerunabhängige Datenerfassung als Grundlage für präzise und wiederholbare Ergebnisse. Zuverlässige Ergebnisse Durch die patentierte Spinning-Disk-Technologie und Aperturkorrelation sorgt Smartproof 5 für schnelle Ergebnisse und bietet eine perfekte Kombination aus hoher Auflösung und hoher Geschwindigkeit. Mithilfe der dedizierten ZEISS Optik und der bewährten Komponenten können Sie in verschiedensten Anwendungen effektiv arbeiten. Ihr Smartproof 5 wird mit ConfoMap geliefert – der ZEISS Version von MountainsMap und dem Nonplusultra im Bereich Charakterisierungssoftware.