Unter dem Motto „Weniger messen müssen: Messprozesse standardisieren, Störgrößen eliminieren und Messergebnisse vergleichbar machen“ hält Katrin Schenk bei der diesjährigen METAV einen spannenden und informativen Vortrag.
Im Spannungsfeld zwischen effizient, genau und vergleichbar messen gibt es viele Einflussgrößen, die von Katrin Schenk aufgezeigt werden.
Störgrößen erkennen und eliminieren und den Messprozess so gestalten, dass vergleichbare Messergebnisse sichergestellt sind, sind die Voraussetzungen für einen robusten Prozess.
Basierend auf einer internen Studie erfahren Sie von Frau Schenk, welche Faktoren den Messprozess am stärksten beeinflussen. Sie bekommen eine Vorstellung, wie Sie dadurch nachhaltig Ihren Messprozess optimieren können und somit ihre Fertigung noch produktiver wird.
Katrin Schenk, verantwortlich für das „Messprozess Assessment“ im Hause ZEISS, kann mit ihren Erfahrungen aus der Reklamationsbearbeitung, Lieferantenauditierung sowie Koordination von Verbesserungsprojekten und Prozessstandardisierungen auch Sie bei der Bewertung und Optimierung Ihres Messprozesses unterstützen.
Der Vortrag findet im FORUM QUALITY auf der METAV 2016
in Halle 16, Stand A13
am Dienstag, den 23. Februar
von 12 bis 12.30 Uhr statt.
Wir freuen uns auf Ihren Besuch.